Dipl.-Phys. Thomas Kups

Thema der Dissertation: Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen zur Gitterplatzbesetzung von Dotanden in SiliziumkarbidExterner Link
Promotion zum: Dr. rer. nat.

Betreuer: Prof. Dr. Wolfgang Richter

Termin der Verteidigung: 4. Mai 2006