Dipl.-Phys. Thomas Schmidt
| Thema der Dissertation: | Untersuchungen zur thermisch induzierten Festphasenkristallisation von Silizium-Dünnschichten durch DiodenlaserbestrahlungExterner Link |
| Promotion zum: | Dr. rer. nat. |
| Betreuer: | PD Dr. Fritz Falk |
| Termin der Disputation: | 9. April 2015 um 14:00 Uhr |